非接触式光学膜厚计 EMIOS

产品信息

特点

非接触式测量不透明、粗糙，易变形的样品

反复性?再现性高

无标准曲线也可知道绝对厚度

测量径很小，不受斑点的影响

样品位置无需调整，放进去即可。

稳定性高，不会产生误差，所以谁都能操作。

光学方式原理所以安全

构成图

任何人都会测量

规格

原理

无需标准线

高精度高分解能

轻松获取

绝对厚度

比较测量方法

样品例子和测量方法的比较

		非接触光学膜厚仪	接触式膜厚仪	X线式膜厚仪	変位計
样品	凝胶片	○	×	○	○
	不织布	○	×	○	×
	金属板	○	○	○	○
	树脂	○	○	○	○
	多孔质	○	△	○	×
	陶瓷	○	○	○	×
	紙?木	○	○	○	×
测量条件	测量时间	○ 高速	○	○	○
	非接触测量	○ 非接触	×	○	○
	前处理	○ 不要	○	×	○

产品信息特长非接触式测量不透明、粗糙，易变形的样品反复性?再现性高无标准曲线也可知道绝对厚度测量径很小，不受斑点的影响样品位置无需调整，放进去即可。Rth，rth测试，位相差测试仪，偏光片轴角测试仪，补偿膜测试，位相差补偿膜测试，光学薄膜仪测试，非接触膜厚仪测试，光纤光谱仪测试仪，mcpd9800，mcpd6800,量子点测试系统，qe2000，变角反射率测试仪，rets100,多层膜厚度测试，pl量子效率测试，tac测试，pva测试，lcf测试仪，pc位相差测试

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产品名称：OTSUKA大塚电子EMIOS非接触式光学膜厚计

非接触式光学膜厚计 EMIOS