产品名称：OTSUKA大塚电子GP-2000紫外分光配光测量系统

紫外分光配光测量系统

产品信息

• 通过分光光度分布对紫外光进行高精度测量

• 从配光上评估紫外光的最大发光强度、光束开度、光束光通量

• 涵盖从紫外线到可见光的波长范围

• 支持从 LED 芯片到模块和应用产品的广泛样品

• 用软件批量控制电源和测量仪器

• 紫外线辐射强度或辐照度中的光分布角分布

• 最大光度、光束开度、光束光通量

• 辐射通量、辐射强度、辐照度

• 总光通量

• 光谱数据

• 根据配光测量系统的测量项目 　总
  光通量、色度坐标xy、uv
  、u'v'相关色温、Duv、主波长、刺激纯度显
  色指数Ra、R1至R15
  峰值波长、半值范围

* 1：测量期间安装样品的方向。 
底座朝下：水平面安装
底座侧：垂直面 安装 
*2：配光测量的测量波长范围为250～850nm 
*3：可选产品请参考总光通量测量系统规格页.

桌面型设备。将 LED 芯片放置在水平面上并进行测量。
受光部一侧为1轴，样品侧为1轴的驱动系统。
由于样品可以放置在平坦的表面上，因此测量再现性和位置调整很容易。
适用于测量LED芯片等不易安装的小样品。

桌面型设备。这是一般配光装置的光学系统。
受光部分与样品部分高度相同，样品侧采用2轴驱动系统。
它可以处理从芯片类型到小模块样品的广泛产品。

大型设备。安装需要一个使用一个暗室的地方。
该设备用于测量大而重的光源，如泛光灯。

测量示例

这是用光谱光分布测量 UV-LED 的结果。
根据辐射强度绘制配光曲线。
通过对光分布测量得到的每个θ处的光谱辐射强度
使用球面系数法，可以得到UV-LED发射的总光谱通量。