产品名称：大塚（OTSUKA）高速延迟测定装置RE-200

大塚（OTSUKA）高速延迟测定装置RE-200

高速延迟测量仪 RE-200

光轴高精度管理！3σ ≤ 0.02° 用于低延迟测量

• 可以测量从 0 nm 开始的低（残余）延迟
• 可以与光轴检测同时进行延迟（Re.）的高速测量（
  可以在0.1秒或更短的时间内完成处理，相当于世界上最快的） 。
• 因为没有驱动单元，所以实现了高重复性
• 只需设置少量测量项目即可轻松测量
• 除了 550nm 的测量波长之外，我们还有各种波长的产品阵容。
• 可进行 Rth 测量和全方位测量
  （需要可选的自动旋转倾斜夹具）
• 通过与拉伸试验机结合，可以在评估薄膜偏振特性的同时评估光弹性
  （该系统是定制的）。

• Rhodation (ρ [度], Re [nm])
• 主轴方位角（θ[deg.]）
• 楕円率（ε）・方位角（γ）
• 三维折射率 (NxNyNz)

• 相位差膜、偏光膜、椭圆膜、视角改善膜、各种功能膜
• 透明和各向异性物质，如树脂和玻璃（玻璃中的应变、变形等）

原　理

什么是 RE-200？

RE-200将由光子晶体元件（偏振元件）和CCD相机组成的偏振测量模块与透射偏振光学系统相结合，实现高速高精度的相位差（再分解）和主轴定向角。测量。由于采用CCD相机一次拍摄获得偏振强度图案，没有旋转分光器的机构，系统整体结构紧凑，即使长期使用也能保持稳定的性能。

执行拟合/傅里叶变换以计算椭圆率 ε 和方位角 γ。

可进行 Rth 测量和全方位测量 * 夹具本体（旋转：180°，倾斜：±50°）

自动旋转倾斜治具