产品详情
简单介绍：
大塚-相位差测量仪RETS-100nx
大塚-相位差测量仪RETS-100nx
大塚-相位差测量仪RETS-100nx
详情介绍：
大塚-相位差测量仪 RETS-100nx
支持OLED用偏光板、层叠型相位差板、IPS液晶相位差板偏光板等各种薄膜的相位差测量装置。
实现与超高 Re.60000 nm 兼容的高速、高精度测量。
可以“无损无剥离”地测量薄膜的层压状态。
此外，它配备了简单的软件和校正功能，支持由于样品重新定位而导致的错位，从而实现简单且高精度的测量。
特 長
只有独特的分光镜才能完成的高精度测量
■ 高精度
通过多波长测量实现高精度
<高精度的原因> -使用独特
的高性能多通道光谱仪-
由于 可以获得大量传输信息，因此可以进行高精度测量
（获得的传输率）。信息约500个波长，约为其他公司产品的50倍）
■ 宽测量范围（保留范围：0 至 60000 nm）
■ 了解延迟波长色散形状
超高延迟测量-超双折射薄膜的高速高精度测量-
■ 高延迟
多层测量-无损无损测量各种薄膜的层压状态不剥落-
轴向角校正功能-即使样品安装未对准，也可轻松且可重复地测量-
■ 更换样品10次，比较有无角度校正的结果
【样品：相位差膜R85】
简单的软件——测量时间和处理时间大大减少。大大提高了可操作性-
规格
| 型式 | 相位差测量仪 RETS-100nx |
| 测量项目（薄膜、光学材料） | Ritalization（波长色散）、慢相轴、Rth * 1、3D 折射率* 1等 |
| 測定項目（偏光板） | 吸收轴、偏振度、消光比、各种色度、各种透过率等。 |
| 测量项目（液晶单元） | 单元间隙、预倾角*1、扭转角、取向角等 |
| 活化测量范围 | 0～60,000nm |
| 重复性 | 3σ≦0.08nm （水晶波長板 約600nm） |
| 单元间隙测量范围 | 0 至 600 μm（当 Δn = 0.1 时） |
| 单元间隙重复性 | 3σ ≤ 0.005 μm（当单元间隙约为 3 μm 且 Δn = 0.1 时） |
| 轴检测重复性 | 3σ≦0.08° （水晶波長板 約600nm） |
| 测量波长范围 | 400-800nm（可提供其他选择） |
| 探测器 | 多通道光谱仪 |
| 测量直径 | φ2mm（标准规格） |
| 光源 | 100W卤素灯 |
| 数据处理部 | 个人电脑、显示器 |
| 舞台尺寸：标准 | 100mm x 100mm（固定载物台） |
| 选项 |
・超高延迟测量 ・多层测量 ・轴角校正功能 ・自动XY台 ・自动倾斜旋转台 |
* 1 需要自动倾斜旋转平台（可选）
特 長
固定ステージ 【 Option：軸角度補正機能 】
自动倾斜旋转平台 [选项]
自动 XY 载物台 [选项]
