膜厚测量应用 多通道光谱仪 MCPD SERIES
它是一种支持紫外到近红外区域的多功能多通道光谱探测器。光谱可以在至少 5 毫秒内测量。标准设备的光纤可用于各种测量系统，无需指定样品类型。除了显微分光、光源发射、透射/反射测量外，还可以通过与软件相结合来支持物体颜色评估、膜厚测量等。
日本大塚膜厚测量光谱仪
我们拥有包括顶级型号 MCPD-9800 在内的 3 种 12 波长范围检测器的阵容，并根据客户的需求和测量应用提出最合适的检测器。
配备通用 USB 端口和支持远程远程测量的 LAN 通信，扩展了便利性和测量应用的范围。
使用 512ch 或 1024ch 检测元件和内部存储器，以最快的速度每 5 毫秒（在 MCPD-9800 的情况下）测量紫外/可见/近红外区域的发射/透射/吸收光谱检测器主体，可以进行高灵敏度、高精度的测量。
标准光纤允许您组装自由光学系统，而不受样品形状和大小的限制。此外，它易于与显微镜和大型载物台等其他设备组合，因此在所有领域都表现出优异的性能。
MCPD符合日本工业标准JIS Z 8724（颜色测量方法-光源颜色）中对分光光度计的所有要求精度，因此您可以放心使用。
大冢电子的光学测量和评估中心在基于测量法的校准操作员注册系统（JCSS * 1 注册系统）下的注册类别“Hikari”中被认证为国际 MRA * 2 兼容 JCSS 校准操作员。为了公平地评价照明设备和光源的性能，国内外都在推动光特性测量方法标准化等各种标准化，它们所要求的测光是“光”。可追溯性。大冢电子通过“光”校准业务提供光度可追溯性，努力为节能环保照明的普及和发展做出贡献。
我们有广泛的附件、可选装置和分析软件。我们提供具有累积技术和专有技术的“最佳系统”，以提出满足客户需求的**和有价值的建议。
* 1 JCSS（日本校准服务系统）：测量法校准服务注册系统
* 2 国际 MRA（互认协议）：国际互认协议
装置构成
膜厚测量系统
用途
◎ 薄膜、涂膜、保护膜的膜厚 ◎
晶圆、玻璃基板、铝基板的
膜厚
显微分光测光系统
应用
◎ 显微光点测量
（反射/透射/吸收）
◎ 薄膜厚度测量
（薄膜、各种基材上的薄膜、保护膜）
多点测量系统
应用
◎ 减反射膜的反射率测量
◎ 涂膜的膜厚测量 ◎
各种基材的膜厚测量
横移机兼容系统
应用
◎ 减反射膜厚度和反射率的测量
◎ 功能膜的质量控制
