大塚RETS-100L相位差测试仪薄膜、偏光板、CellGap
Otsuka大塚电子RETS-100L相位差测试仪应用薄膜、偏光板、CellGap测量
相位差量測系統RETS-100nx系列
薄膜、光學材料Retardation(波長分散)、遲相軸、Rth(＊1)、3維折射率(＊1) 等
偏光板吸収軸、偏光度、消光比、各種色度、各種穿透率 等
液晶CellCell Gap、Pre-tilt角(＊1)、Twist角、配向角等
＊1：需要傾斜旋轉量測台。(選購品)
光學薄膜
相位差膜、橢圓膜、相位差板?偏光膜、附加功能偏光膜、偏光板、其它光學材料
液晶層
穿透?半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強誘電性液晶)、反射型液晶層(TN,STN)
RETS-100L相位差测试仪应用薄膜、偏光板、CellGap测量详细介绍
RETS-100nx
Retardation
量測範圍
0 ~ 60,000nm
Retardation
可反覆操作
3σ≦0.08nm(水晶波長板 約600nm)
Cell Gap
量測範圍
0 ~ 600μm(當Δn=0.1時)
Cell Gap
可反覆操作
3σ≦0.005μm(當Cell Gap約3μｍ、Δｎ＝0.1時)
軸檢出
可反覆操作
3σ≦0.08°(水晶波長板 約600nm)
量測波長範圍
400 ~ 800nm(有其他選擇)
探測器
多通道分光光譜儀
量測外徑
φ2 or φ5㎜(標準規格)
光源
100W 鹵素燈
數據處理部
個人電腦、伺服器
量測台尺寸
標準
100mm × 100mm(固定量測台)
設備尺寸
W480 × D520 × H765mm
選購品
?***Retardation量測
?多層量測
?軸角度補償功能
?XY量測台(自動?手動)
?傾斜旋轉量測台(自動?手動
